電鍍膜厚檢測儀分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
電鍍膜厚檢測儀的影響因素有哪些？
1、基體金屬磁性量
磁性法測厚受基體金屬磁性變革的影響(正在實際應用中，低碳鋼磁性的變革能夠認為是細微的)，為了制止熱處置和冷加工因素的影響，應使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對儀器停止校準；亦可用待涂覆試件停止校準。
2、基體金屬電性量
基體金屬的電導率對丈量有影響，而基體金屬的電導率取其質料成分及熱處置辦法有關。使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對儀器停止校準。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于那個厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
4、邊沿效應
本儀器對試件外表外形的陡變敏感。因而正在靠近試件邊沿或內轉角處停止丈量是不成靠的。
5、曲率
試件的曲率對丈量有影響。那種影響總是跟著曲率半徑的減少明顯地刪大。因而，正在彎曲試件的外表上丈量是不成靠的。
6、試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因而正在那些試件上測出可靠的數據。
7、外表粗拙度
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